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北京市丰台区南三环西路16号2号楼27层[可寄样]

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010-82491398

报告问题解答:

010-8646-0567

检测领域:

成分分析,配方还原,食品检测,药品检测,化妆品检测,环境检测,性能检测,耐热性检测,安全性能检测,水质检测,气体检测,工业问题诊断,未知成分分析,塑料检测,橡胶检测,金属元素检测,矿石检测,有毒有害检测,土壤检测,msds报告编写等。

电子能谱检测

发布时间:2024-01-08

关键词:电子能谱检测

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来源:北京黄金城集团官网科学技术研究所

文章简介:

电子能谱检测去哪里检测?中析研究所材料检测机构可提供电子能谱检测服务,拥有CMA资质证书,的电子能谱检测机构,7-15个工作日出具电子能谱检测报告。
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因业务调整,部分个人测试暂不接受委托,望见谅。

电子能谱检测去哪里检测?中析研究所材料检测机构可提供电子能谱检测服务,CMA资质认证机构,高新技术企业,正规的第三方检测机构,7-15个工作日出具电子能谱检测报告,检测周期短、检测费用低、检测结果科学准确!

检测范围

热喷涂锌铝合金,CDS薄膜,半导体材料,电镀锡钴合金镀层表面膜,催化材料,铜缓蚀剂,薄膜材料等。

检测项目

俄歇电子能谱检测,X射线光电子能谱检测,紫外光电子能谱检测,XPS表面光电子能谱检测等。

检测周期:7-15个工作日

检测费用:初检小样,稍后实验室工程师根据检测项目报价。

电子能谱检测标准

GB/T 19500-2004X一射线光电子能谱分析方法通则

GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性

GB/T 22571-2017表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准

GB/T 25184-2010X射线光电子能谱仪检定方法

GB/T 25185-2010表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告

GB/T 25187-2010表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

GB/T 26533-2011俄歇电子能谱分析方法通则

GB/T 28632-2012表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定

GB/T 28633-2012表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性

GB/T 28892-2012表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述

GB/T 28893-2012表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 29558-2013表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性

GB/T 29731-2013表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准

GB/T 29732-2021表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准

电子能谱检测

电子能谱检测流程

1、寄样

2、初检样品

3、报价

4、双方确定,签订保密协议,开始实验

5、7-15个工作日完成实验

6、邮寄检测报告,后期服务。

中析研究所检测有什么优势

1、中析研究所CMA资质认证,出具正规的第三方检测报告。

2、中析研究所拥有正规的第三方实验室,科研团队强大。

3、中析研究所7-15个工作日可出具检测报告,检测周期短。

4,中析研究所为严谨、公正科研机构,高新技术企业

以上就是电子能谱检测内容,关于其他问题,您可以咨询材料实验室工程师为您解答!

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